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  • HVUα_1000VCAF試驗/CAF測試
    HVUα_1000VCAF試驗/CAF測試
    CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:6303    型號:HVUα_1000V
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  • HVUα_3000V離子遷移試驗設備
    HVUα_3000V離子遷移試驗設備
    離子遷移試驗設備,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:813    型號:HVUα_3000V
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  • HVUα_2000V離子遷移實驗裝置
    HVUα_2000V離子遷移實驗裝置
    離子遷移實驗裝置 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:718    型號:HVUα_2000V
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  • HVUα_1000V離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估
    HVUα_1000V離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估
    離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:855    型號:HVUα_1000V
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  • ECM-500離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試
    ECM-500離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試
    離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:879    型號:ECM-500
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  • ECM-100離子遷移實驗裝置
    ECM-100離子遷移實驗裝置
    離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生, 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:832    型號:ECM-100
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