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離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估

簡要描述:離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

  • 更新時間:2024-04-15
  • 訪  問  量:856
  • 廠商性質:生產廠家
  • 產品型號:HVUα_1000V
品牌其他品牌產地進口
加工定制

離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估

產品特點

  • 通過100n秒以下的高速事件測量功能檢測部分放電(也可以與電阻值數據同時測量)

  • CH個別電源搭載&CH個別反饋對各樣品施加穩定的電壓

  • 搭載CH個別電源&CH個別控制可對所有CH設定不同的施加電壓

  • 因為沒有機械式繼電器的掃描,所以連續試驗中*和故障

  • 短路檢測電路的CH個別搭載也追隨瞬間的樣品短路

  • 通過三軸電纜的主動保護實現低噪聲測量(測量側)

  • 通過專用軟件可以顯示圖表和收錄數據

  • 可按需配置5個通道

用途

高電壓器件的絕緣可靠性評價、功率模塊的連續耐壓評價、印刷電路板的耐遷移性能評價、其他高電壓部件的絕緣可靠性評價。

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対応OS:WindowsXp、7、8、10

離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估

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