產品展示首頁 > 產品展示 > 日本J-RAS > 離子遷移試驗裝置(CAF) > 離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

簡要描述:離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

  • 更新時間:2024-04-15
  • 訪  問  量:879
  • 廠商性質:生產廠家
  • 產品型號:ECM-500
品牌其他品牌產地進口
加工定制

離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000  小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF  試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TESTING )

在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。

適用規格 : JPCA- - ET01- - 2001

離子遷移實驗裝置絕緣電阻值測試

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
久久午夜夜伦鲁鲁片免费无码影院_欧美老熟妇乱人伦人妻_男女作爱网站免费观看全过程_亚洲成AV人片在线观看无