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  • ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試
    ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試
    日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:2128    型號:ECM-100
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