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  • ECM-100J-RAS代理
    ECM-100J-RAS代理
    J-RAS代理離子遷移試驗裝置 CAF測試,ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統,并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。作為系統構成我們準備了40CH/100CH型,可以根據您的預算、設置空間來進行選擇。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:1157    型號:ECM-100
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  • ECM-100日本J-RAS絕緣劣化試驗
    ECM-100日本J-RAS絕緣劣化試驗
    離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。日本J-RAS絕緣劣化試驗
    更新時間:2024-04-15    訪問量:1367    型號:ECM-100
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  • ECM-100導通電阻試驗裝置
    ECM-100導通電阻試驗裝置
    導通電阻試驗裝置 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:1971    型號:ECM-100
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  • HVUα_3000V離子遷移試驗裝置
    HVUα_3000V離子遷移試驗裝置
    離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗。
    更新時間:2024-04-15    訪問量:746    型號:HVUα_3000V
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  • HVUα_2000V離子遷移實驗裝置
    HVUα_2000V離子遷移實驗裝置
    離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TEST......
    更新時間:2024-04-15    訪問量:739    型號:
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  • HVUα_1000V離子遷移實驗裝置
    HVUα_1000V離子遷移實驗裝置
    離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。( ION MIGRATION TEST......
    更新時間:2024-04-15    訪問量:762    型號:
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